各大手機 USB Killer 插拔測試 iPhone 8 會否一插報廢?

去到 10 月尾,連 iPhone X 也能預訂的時候,幾乎所有主要手機大廠已經推出或發售了旗艦智能手機,但手機始終有一天會壞,面對有電子儀器殺手之稱的 USB Killer,這些手機可以生存嗎?

EverythingApplePro 最近利用電磁脈衝裝置(EMP)以及傳說中可以一指廢掉電腦的 USB Killer 進行測試,看看 iPhone 8、山寨 iPhone X、Galaxy Note 7、Google Pixel 2 以及新 Nokia 3310 是否可以抵擋得住這些電子攻擊。由於高壓電和電磁脈衝危險,所以他戴起手套作保護。

在 EMP 測試之中,測試的手機結果一般,例如那部早前開箱的山寨 iPhone X 以及 iPhone 8,在靠近 EMP 的時候螢幕大幅閃爍,iPhone 8 更因此重啟,Home 鍵不能使用,就算是能抵擋 EMP 的 Note 8 和 Pixel 2,觸控也有延誤的情況。

完成 EMP 測試之後,就來到戲玉了。他為各手機先後插上 USB Killer,看看手機是否可以抵擋得住,首先遭殃的是 Nokia 3310,但插上 USB Killer 之後竟然沒有反應,似乎 USB Killer 並不能影響新 Nokia 3310,不死神機神話延續了。

但 iPhone 8 就不太幸運了,插上 USB Killer 數秒之後 iPhone 8 出現爆炸聲,不能操作,連 Lightning 接口也失靈。

但是,在山寨 iPhone X 插上 USB Killer 之後仍然可以操作,有點意外。

同樣地 Galaxy Note 8 插上 USB Killer 之後仍然可以操作,但 USB Killer 試圖傳送大量電流到機內,換言之如果插入久一些,Note 8 也有可能會被幹掉。

然而這次測試最慘的 Google Pixel 2,插上 USB Killer 手機立即被幹掉了,插入 1 秒立即 lag 死,不能操作,更會主動關機,從此這部 Pixel 2 就不能開機了。

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