去到 10 月尾，連 iPhone X 也能預訂的時候，幾乎所有主要手機大廠已經推出或發售了旗艦智能手機，但手機始終有一天會壞，面對有電子儀器殺手之稱的 USB Killer，這些手機可以生存嗎？
EverythingApplePro 最近利用電磁脈衝裝置（EMP）以及傳說中可以一指廢掉電腦的 USB Killer 進行測試，看看 iPhone 8、山寨 iPhone X、Galaxy Note 7、Google Pixel 2 以及新 Nokia 3310 是否可以抵擋得住這些電子攻擊。由於高壓電和電磁脈衝危險，所以他戴起手套作保護。
在 EMP 測試之中，測試的手機結果一般，例如那部早前開箱的山寨 iPhone X 以及 iPhone 8，在靠近 EMP 的時候螢幕大幅閃爍，iPhone 8 更因此重啟，Home 鍵不能使用，就算是能抵擋 EMP 的 Note 8 和 Pixel 2，觸控也有延誤的情況。
完成 EMP 測試之後，就來到戲玉了。他為各手機先後插上 USB Killer，看看手機是否可以抵擋得住，首先遭殃的是 Nokia 3310，但插上 USB Killer 之後竟然沒有反應，似乎 USB Killer 並不能影響新 Nokia 3310，不死神機神話延續了。
但 iPhone 8 就不太幸運了，插上 USB Killer 數秒之後 iPhone 8 出現爆炸聲，不能操作，連 Lightning 接口也失靈。
但是，在山寨 iPhone X 插上 USB Killer 之後仍然可以操作，有點意外。
同樣地 Galaxy Note 8 插上 USB Killer 之後仍然可以操作，但 USB Killer 試圖傳送大量電流到機內，換言之如果插入久一些，Note 8 也有可能會被幹掉。
然而這次測試最慘的 Google Pixel 2，插上 USB Killer 手機立即被幹掉了，插入 1 秒立即 lag 死，不能操作，更會主動關機，從此這部 Pixel 2 就不能開機了。
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